冷场发射电子枪:(EM-20230CFEG)
束流:≥2.5 nA @ 0.7 nm Probe Size
能量分辨率:≤0.3 eV
TEM点分辨率0.23 nm;TEM条纹分辨率:0.1 nm
STEM-HAADF分辨率:0.16 nm
BEI分辨率:1 nm
加速电压:80 kV、200 kV
JEM-F200 场发射透射电子显微镜以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验.
无
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