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半导体纳米芯片测试表征系统
半导体纳米芯片测试表征系统
仪器编号
2025003783
规格
定制
生产厂家
北京卓立汉光仪器有限公司
型号
定制
制造国家
中国
分类号
03011171
放置地点
出厂日期
2025-03-12
购置日期
2025-04-24
入网日期
2026-03-03

主要规格及技术指标

AMG1.5,IV-300A,光斑有效面积60mm×60mm,光斑均匀性≤2%,标准太阳能电池校准电压192mV

主要功能及特色

测量太阳能电池器件的IV及IT特性曲线,并对电池的开路电压、短路电流、最大功率、填充因子、转换效率进行测试计算。

主要附件及配置

公告名称 公告内容 发布日期