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电子束曝光附件
电子束曝光附件
仪器编号
2025011683
规格
XeDraw2&XeMOVE
生产厂家
XENOS Semiconductor Technologies GmbH
型号
XeDraw2&XeMOVE
制造国家
德国
分类号
010199
放置地点
出厂日期
2026-01-12
购置日期
2025-09-25
入网日期
2026-01-12

主要规格及技术指标

1.写入速度:最高可达10 Mpixels/s
2.分辨率:16 位,写入范围50000 × 50000 像素点
3.写入图形:用户自定义的各种图形或导入的第三方图案,例如点、单像素线、矩形原始图形(螺旋、曲线填充、梯形、三角形、平行格、阵列、圆形、圆环、环形片断)、输入图形文件(bmp、jpg、GDS II和AutoCad、dxf等)
4.写入频率:10kHz 至10MHz,步进1kHz
5.高精度样品台:定位精度≤10nm
6.拼接精度+套刻精度≤10nm
7.样品台移动范围:大于55 ~ 120mm
8.样品台移动速度:≥2mm/s

主要功能及特色

与扫描电镜或FIB联用,即形成一套先进的纳米光刻系统,具体功能与特色为:1.用于现有扫描电镜的功能升级,通过在现有扫描电镜上安装电子束曝光附件,使扫描电镜具备满足科研需求的电子束图形曝光能力。
主要用于光栅、菲涅尔透镜等周期性微纳结构的创建,也可用于MEMS、微麦、微镜、CMOS图像传感器、FET和IGBT等半导体器件1 um以下特征尺寸的栅极等微结构的加工。

主要附件及配置

公告名称 公告内容 发布日期